为了进一步满足我校广大师生的科研需求，提高我校大型科研仪器测试服务水平，分析测试中心将面向全校师生开设大型科研仪器系列讲座。为了使相关学科研究人员充分了解扫描电子显微技术（SEM）在微观结构研究中的应用，分析测试中心将于2010年6月24日举办“扫描电子显微技术（SEM）在材料及其相关学科研究中的应用”的学术报告，主要内容包括：扫描电镜（SEM）的基本原理及结构、SEM样品的制备方法，SEM对检测样品的要求，SEM与TEM、AFM等在应用上的差别，以及SEM在材料、生物、化工、医学等相关学科研究中的具体应用。欢迎各位老师、同学届时踊跃参加！

主讲人简介：王辉，工程师，1996年硕士研究生毕业后留校工作，长期在SEM岗位从事测试工作，对扫描电镜（SEM）的应用有丰富的实践经验。

时间：2010年6月24日星期四 下午16时

地点：分析测试中心（东区）333会议室