10月13日下午，分析测试中心在333会议室开展“分析测试技术与学术交流”系列讲座第六讲。结构形貌室主任文季秋博士为来自校内外同行及师生50余人做了题为“X-射线衍射分析结晶度及计算晶粒尺寸的方法”的技术交流报告。

文季秋博士多年从事X射线衍射分析测试工作，对X-射线衍射测试和分析方法及在材料科学研究中的应用具有比较深入的理解和实际经验，为科研及产品研发提供了大量测试数据和分析结果。

结晶性是材料的一种基本性能，X射线衍射是分析材料结晶性的一种主要方法。针对新版教育行业标准《JY/T0587-2020多晶体X射线衍射方法通则》和高校教材对结晶度的定义及分析方法，以及同学们经常提出的一些问题，结合分析测试中心X射线仪器组多年来的分析测试实践详细交流了结晶度分析和晶粒尺寸计算的具体方法，以及在材料研究中具体应用的解决方案。