时间：2023年6月20日 10:30-11:30

地点：四川大学分析测试中心333会议室

主讲人：崔园园 博士 岛津/Kratos公司XPS应用工程师

主办：分析测试中心

报告主要包括以下几部分: 1、XPS技术原理简介及适用范围;2.XPS数据拟合分析基本原则及复杂元素拟合实例;3.XPS技术在能源材料领域的应用研究进展介绍。
X射线光电子能谱仪是表面分析领域中一种崭新的分析技术，通过测量固体样品表面约10nm左右被激发出光电子的动能，进而对固体样品表面的元素成分进行定性、定量及价态分析。可以有效地分析固体材料表面的元素(3Li~92U)成分，尤其可以定量地解析各种元素的所处的化学状态，因而可以对材料制备、使用和失效过程进行有效的表征，从而揭示材料的化学成分及其价态与性能的作用机理。本次讲座拟对XPS分析技术及其最新进展做简单介绍，重点介绍XPS在科研工作的应用，化学状态分析及成像分析。